27 research outputs found

    Verifying analog circuits based on a digital signature

    Get PDF
    Verification of analog circuit specifications is a challenging task requiring expensive test equipment and time consuming procedures. This paper presents a method for low cost parameter verification based on statistical analysis of a digital signature. A CMOS on-chip monitor and sampler circuit generates the digital signature of the CUT. The monitor composes two signals (x(t); y(t)) and divides the X-Y plane with nonlinear boundaries in order to generate a digital code for every analog (x; y) location. A metric to be used to discriminate the golden and defective signatures is also proposed. The metric is based on the definition of a discrepancy factor performing circuit parameter identification via statistical and pre-training procedures. The proposed method is applied to verify possible deviations on the natural frequency of a Biquad filter. Simulation results show the possibilities of the proposal.Postprint (published version

    Digital signature generator for mixed-signal testing

    Get PDF
    Ponència presentada al 14th IEEE European Test SymposiumEs presenta un nou generador de signatures digitals per controlar dues senyals anàlogues. Es presenta la tecnologia STM 65 nm per demostrar la viabilitat de la proposta.Postprint (published version

    Analog circuit test based on a digital signature

    Get PDF
    Production verification of analog circuit specifica- tions is a challenging task requiring expensive test equipment and time consuming procedures. This paper presents a method for low cost on-chip parameter verification based on the analysis of a digital signature. A 65 nm CMOS on-chip monitor is proposed and validated in practice. The monitor composes two signals (x(t), y(t)) and divides the X-Y plane with nonlinear boundaries in order to generate a digital code for every analog (x, y) location. A digital signature is obtained using the digital code and its time duration. A metric defining a discrepancy factor is used to verify circuit parameters. The method is applied to detect possible deviations in the natural frequency of a Biquad filter. Simulated and experimental results show the possibilities of the proposal.Peer ReviewedPostprint (published version

    Eines de la web 2.0 per a la coordinació d'assignatures i el treball en equip

    Get PDF
    Aquest projecte té per objectiu millorar l'eficiència en l'aprenentatge introduint la web 2.0 com a eina quotidiana de coordinació del PDI i de treball en equip de l'alumnat. La part més important del projecte consisteix en posar en marxa un dipòsit de material docent (OCW) específic del grau en Enginyeria de Sistemes TIC (iTIC) que s’imparteix a l’EPSEM. D’una banda, això facilita la coordinació i col·laboració entre assignatures en permetre al PDI accedir al detall del contingut de la resta d’assignatures del grau. D’altra banda, es dóna un millor servei a l’estudiantat, el qual pot accedir a aquest contingut abans (per tenir informació complementària a la de la guia docent), durant (a ATENEA s’organitza el curs i s’enllaça els continguts necessaris de l’OCW) i després (per revisar continguts) de cursar l'assignatura. En el projecte també s'introdueix com a element d'aprenentatge el treball en equip propi d'un wiki. L'alumnat, a més de fer-ne un ús tradicional en el context d'una assignatura, confecciona un calendari, amb les dates d'avaluació i d'entrega d'activitats, que permet al PDI equilibrar el treball de l'alumnat en conèixer l'estrès acadèmic de l'alumnat en cada moment.Peer Reviewe

    MICROELECTRÒNICA I (Examen 1r quadrim.)

    No full text
    Examen fina

    Disseny electrònic assistit per ordinador

    No full text
    2011/201

    Transparencies de classe

    No full text
    2011/201

    MICROELECTRÒNICA I (Examen 1r quadrim.)

    No full text
    Examen parcia
    corecore